(19)国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202210934271.9
(22)申请日 2022.08.04
(71)申请人 北京旷视科技有限公司
地址 100080 北京市海淀区西三 旗建材城
内建中路12幢一层1268号
申请人 深圳旷视金智科技有限公司
(72)发明人 胡刚
(74)专利代理 机构 北京润泽恒知识产权代理有
限公司 1 1319
专利代理师 苟冬梅
(51)Int.Cl.
G06T 7/73(2017.01)
G06V 10/75(2022.01)
(54)发明名称
图像的特征点匹配方法、 设备、 介质及程序
产品
(57)摘要
本申请实施例提供了一种图像的特征点匹
配方法、 设备、 介质及程序产品, 所述方法包括:
从多个初始匹配点对中采样出多个目标匹配点
对; 多个所述初始匹配点对是对第一图像上的特
征点和第二图像上的特征点进行初始匹配得到
的; 基于多个所述目标匹配点对中属于所述第一
图像上的第一特征点的第一位置分布信息, 以
及, 多个所述目标匹配点对中属于所述第二图像
上的第二特征点的第二位置分布信息, 确定多个
所述目标匹配点对是否是满足目标条件的匹配
点对; 若是, 则基于多个所述目标匹配点对所构
建的基础矩阵, 对多个初始匹配点进行筛选, 得
到所述第一图像和所述第二图像的匹配特征点
对; 其中, 一对匹配特征点对对应空间中的同一
目标点。
权利要求书3页 说明书19页 附图3页
CN 115439534 A
2022.12.06
CN 115439534 A
1.一种图像的特 征点匹配方法, 其特 征在于, 所述方法包括:
从多个初始匹配点对中采样出多个目标匹配点对; 多个所述初始匹配点对是对第 一图
像上的特 征点和第二图像上的特 征点进行初始匹配得到的;
基于多个所述目标匹配点对中属于所述第一图像上的第一特征点的第一位置分布信
息, 以及, 多个所述 目标匹配点对中属于所述第二图像上 的第二特征点的第二位置分布信
息, 确定多个所述目标匹配点对是否是满足目标 条件的匹配点对;
若是, 则基于多个所述目标匹配点对所构建的基础矩阵, 对多个初始匹配点进行筛选,
得到所述第一图像和所述第二图像的匹配特征点对; 其中, 一对所述匹配特征点对对应空
间中的同一目标点。
2.根据权利要求1所述的方法, 其特征在于, 所述第 一位置分布信 息和所述第 二位置分
布信息是按照以下步骤获取的:
获取所述第 一图像上的多个所述第 一特征点构 成的第一拓扑结构, 和所述第 二图像上
的多个所述第二特 征点构成的第二拓扑 结构;
基于所述第 一拓扑结构, 确定所述第 一位置分布信息, 并基于所述第 二拓扑结构, 确定
所述第二 位置分布信息 。
3.根据权利要求1 ‑2任一项所述的方法, 其特征在于, 所述基于多个所述目标匹配点对
中属于所述第一图像上 的第一特征点的第一位置分布信息, 以及, 多个所述 目标匹配点对
中属于所述第二图像上的第二特征点的第二位置分布信息, 确定多个所述目标匹配点对是
否是满足目标 条件的匹配点对, 包括:
基于所述第 一位置分布信 息和所述第 二位置分布信 息, 确定多个所述目标匹配点对对
应的分布差异信息;
基于所述分布差异信息, 确定多个所述目标匹配点对是否是满足目标条件的匹配点
对; 其中, 分布差异信息包括分布 距离差异信息和/或分布方向差异信息;
其中, 所述分布距离差异信 息通过任意两个所述目标匹配点对中两个所述第 一特征点
之间的第一距离与两个所述第二特征点之 间的第二距离的差异表征, 所述分布方向差异信
息通过任意三个所述目标匹配点对中三个所述第一特征点之间的第一夹角, 与三个所述第
二特征点构成的第二夹角之间的差异 表征。
4.根据权利要求3所述的方法, 其特征在于, 所述分布差异信息包括分布距离差异信
息; 所述基于所述第一位置分布信息和所述第二位置分布信息, 确定多个所述目标匹配点
对对应的分布差异信息, 包括:
针对相邻的每两个所述第 一特征点, 确定两个所述第 一特征点之间的第 一距离与对应
的两个所述第二特 征点之间的第二距离之间的距离比值;
基于各个所述距离比值, 确定所述分布 距离差异信息 。
5.根据权利要求3或4所述的方法, 其特征在于, 所述分布差异信息包括分布方向差异
信息; 所述基于所述第一位置分布信息和所述第二位置分布信息, 确定多个所述 目标匹配
点对对应的分布差异信息, 包括:
针对相邻的每三个所述第 一特征点, 确定三个所述第 一特征点之间的第 一夹角与对应
的三个所述第二特 征点之间的第二夹角的角度差;
基于各个所述角度差, 确定所述分布方向差异信息 。权 利 要 求 书 1/3 页
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CN 115439534 A
26.根据权利要求1 ‑5任一项所述的方法, 其特征在于, 所述基于多个所述目标匹配点对
所构建的基础矩阵, 对多个初始匹配点进行筛选, 得到所述第一图像和所述第二图像的匹
配特征点对之前, 所述方法还 包括:
校验所述第 一图像上的多个所述第 一特征点是否共线, 以及校验所述第 二图像上的多
个所述第二特 征点是否共线;
若校验结果指示多个所述第一特征点不共线, 以及多个所述第二特征点不共线, 则执
行所述基于多个所述目标匹配点对所构建的基础矩阵, 对多个初始匹配点进行筛选的步
骤。
7.根据权利要求1 ‑4任一项所述的方法, 其特征在于, 所述基于多个所述目标匹配点对
所构建的基础矩阵, 对多个初始匹配点进行筛选, 得到所述第一图像和所述第二图像的匹
配特征点对, 包括:
基于所述基础矩阵, 构建极线, 所述极线用于将所述第一图像上的特征点映射到所述
第二图像上, 或者用于将所述第二图像上的特 征点映射到所述第一图像上;
基于所述极线, 从所述多个初始匹配点对中筛选出符合对极约束的多个候选匹配点
对;
基于多个所述候选匹配点对中位于所述第 一图像上的特征点的位置分布信 息, 与位于
所述第二图像上的特征点的位置分布信息之间的差异, 对多个所述候选匹配点对进行筛
选, 得到所述第一图像和所述第二图像的匹配特 征点对。
8.根据权利要求7所述的方法, 其特征在于, 在确定所述多个目标匹配点对满足所述目
标条件的情况 下, 所述方法还 包括:
基于所述第 一位置分布信 息和所述第 二位置分布信 息, 确定多个所述目标匹配点对对
应的第一距离比率, 所述第一距离比率表征任意两个所述目标匹配点对中两个第一特征点
之间的距离与两个第二特 征点之间的距离的距离比;
所述基于多个所述候选匹配点对中位于所述第 一图像上的特征点的位置分布信 息, 与
位于所述第二图像的特征点上的位置分布信息之间的差异, 对多个所述候选匹配点对进 行
筛选, 得到所述第一图像和所述第二图像的匹配特 征点对, 包括:
基于两两所述候选匹配点对中, 位于所述第一图像上的两个特征点之间的距离, 与位
于所述第二图像上的两个特征点之 间的距离, 确定两两所述候选匹配点对应的第二距离比
率;
基于所述第一距离比率和所述第二距离比率, 对多个所述候选匹配点对进行筛选, 得
到所述第一图像和所述第二图像的匹配特 征点对。
9.根据权利要求1 ‑8任一项所述的方法, 其特征在于, 所述从多个初始匹配点对中采样
出多个目标匹配点对, 包括:
对所述多个初始匹配点对执行多次采样操作, 获取每次采样操作所对应的多个目标匹
配点对;
所述方法还 包括:
针对基于每次采样操作所得到的多个目标匹配点所得到的所述第一图像和所述第二
图像的匹配特 征点对, 确定该匹配特 征点对的数量;
基于匹配特征点对的数量, 从多次采样操作所分别对应的匹配特征点对中, 确定出所权 利 要 求 书 2/3 页
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专利 图像的特征点匹配方法、设备、介质及程序产品
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