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(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 20212310725 6.7 (22)申请日 2021.12.10 (73)专利权人 深圳立仪科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙岗区坪 地街 道中心社区埔仔 路22号A601创世纪大 厦6楼 (72)发明人 刘杰波 (74)专利代理 机构 深圳市中科创为专利代理有 限公司 4 4384 专利代理师 冯建华 谢志龙 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种光学非接 触检测装置 (57)摘要 本实用新型公开一种光学非接触检测装置, 包括: 腔体A、 腔体B、 连接部以及第一检测部, 第 一检测部包括: 检测光发生部、 收光镜头以及感 光芯片电路板, 腔体A与 腔体B之间通过连接部连 接固定, 检测光发生部设于腔体A内, 收光镜头与 感光芯片电路板设于腔体B内, 腔体A上设有让检 测光射出的出射窗口, 腔体B上设有用于让检测 需要收集的光通过的入射窗口。 本光学非接触检 测装置布局合理, 整个装置体积小巧, 采用连接 部将腔体A与腔体B连为一个整体, 使得腔体A与 腔体B的相对位置不变, 从而减少误差的产生, 提 高了检测或加工效率。 配备了校准数据, 方便用 户进行高精度复杂的标定或校准, 而且用户使用 简单方便 。 权利要求书1页 说明书3页 附图3页 CN 216484582 U 2022.05.10 CN 216484582 U 1.一种光学非接触检测装置, 包括: 腔体A、 腔体B以及第一检测部, 所述第一检测部包 括: 检测光发生部、 收光镜头以及感光芯片电路板, 其特征在于, 所述光学非接触检测装置 还包括连接部, 所述腔体A与腔体B之间通过连接部连接固定, 所述检测光发生部设于所述 腔体A内, 所述收光镜头与感光芯片电路板设于所述腔体B内, 所述检测光发生部用于发出 检测光, 所述腔体A上设有让检测光射出的出射窗口, 所述收光镜头用于收集检测需要的 光, 所述腔体B上设有用于让检测需要收集的光 通过的入射窗口。 2.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 还包括用于对所述光学非 接触检测装置进行 标定或校准的校准数据。 3.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 还包括用于连通腔体A与 腔体B的通道, 电线位于所述 通道内。 4.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 所述腔体A与腔体B上设有 用于将腔体A或腔体B 密封的盖 板。 5.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 所述连接部上设有安装 孔。 6.根据权利要求1 ‑5任一项所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 还包括第 二检测 部, 所述第二检测部安装在所述连接 部上。 7.根据权利要求6所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 所述第 二检测部包括镜头 与相机, 所述第二检测部检测的位置或视野与所述第一检测部的检测点或检测区域重合或 接近。 8.根据权利要求7所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 所述第 二检测部还包括光 源, 所述腔体A与腔体B避开所述 光源所占的空间。 9.根据权利要求8所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 所述光源与所述检测光发 生部不同时发光。 10.根据权利要求1所述的光学非接触检测装置, 其特征在于, 还包括加工部, 所述第 一 检测部检测的位置或视野与所述加工 部的加工区域重合或接 近。权 利 要 求 书 1/1 页 2 CN 216484582 U 2一种光学非接 触检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型 涉及光学检测领域, 尤其涉及一种光学非接触 检测装置 。 背景技术 [0002]目前市场上的光学检测装置, 当需要多个检测部或者检测部与加工部结合的常规 做法是, 将多个部分开设置, 每个部之间相隔较远。 以带检测的点胶机为例, 通常用一个点 胶加工部和一个2D检测镜头相机来修正平 面位置, 使用一个高度或3D的检测部来确定高度 或点胶后的高度。 而且胶路有可能是弯曲的圆形或不规则的形状, 这种情况就需要检测部 和加工部之间可以循迹, 还需要旋转轴, 回转半径很大, 导致光学检测装置的体积大增, 成 本也随之大增。 而且容 易产生误差, 降低了检测或加工效率。 [0003]另外, 如果使用分开的镜头相机加独立的结构光源的方法, 则安装复杂, 镜头畸变 和空间位置校准复杂, 一般的设备厂家没有能力进行高精度的复杂标定, 实用性很 差。 [0004]因此, 现有技 术存在缺陷, 需要改进。 实用新型内容 [0005]本实用新型的目的是 克服现有技 术的不足, 提供一种光学非接触 检测装置 。 [0006]本实用新型的技术方案如下: 一种光学非接触检测装置, 包括: 腔体A、 腔体B以及 第一检测部, 所述第一检测部包括: 检测光发生部、 收光镜头以及感光芯片电路板, 所述光 学非接触检测装置还包括连接部, 所述腔体A与腔体B之间通过连接部连接固定, 所述检测 光发生部设于所述腔体A内, 所述收光镜头与感光芯片电路板设于所述腔体B内, 所述检测 光发生部用于发出检测光, 所述腔 体A上设有让检测光射出的出射窗口, 所述收光镜头用于 收集检测需要的光, 所述腔体B上设有用于让检测需要收集的光 通过的入射窗口。 [0007]进一步地, 本光学非接触检测装置还包括用于对所述光学非接触检测装置进行标 定或校准的校准数据。 [0008]进一步地, 本光学非接触检测装置还包括用于连通腔体A与腔体B的通道, 电线位 于所述通道内。 [0009]进一步地, 所述腔体A与腔体B上设有用于将 腔体A或腔体B 密封的盖 板。 [0010]进一步地, 所述连接 部上设有安装孔。 [0011]进一步地, 本光学非接触检测装置还包括第二检测部, 所述第二检测部安装在所 述连接部上。 [0012]进一步地, 所述第二检测部包括镜头与相机, 所述第二检测部检测的位置或视野 与所述第一检测部的检测点或检测区域重合或接 近。 [0013]进一步地, 所述第二检测部还包括光源, 所述腔体A与腔体B避开所述光源所占的 空间。 [0014]进一步地, 所述光源与所述检测光发生部不同时发光。 [0015]进一步地, 本光学非接触检测装置还包括加工部, 所述第一检测部检测的位置或说 明 书 1/3 页 3 CN 216484582 U 3
专利 一种光学非接触检测装置
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