(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123053322.7 (22)申请日 2021.12.07 (73)专利权人 大连耐视科技有限公司 地址 116000 辽宁省大连市高新 技术产业 园区广贤路107号鑫奇辉办公大楼 118G (72)发明人 潘坤　郭右利　 (74)专利代理 机构 大连大工智讯专利代理事务 所(特殊普通 合伙) 2124 4 专利代理师 崔雪 (51)Int.Cl. G01N 21/95(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (ESM)同样的发明创造已同日申请发明 专利 (54)实用新型名称 一种单晶硅棒自动检测系统 (57)摘要 本实用新型涉及视觉图像 分析技术领域， 提 供一种单晶硅棒自动检测系统， 所述系统包括： 高精度移动模组、 采集系统、 视觉控制器、 可编程 控制器和移动滑台； 所述高精度移动模组沿待检 测的硅棒的长度方向布置， 所述高精度移动模组 上滑动设置移动滑台； 所述高精度移动模组外接 可编程控制器； 所述移动滑台上安装有采集系 统； 所述采集系统外接视觉控制器； 所述采集系 统， 包括： 采集系统安装板、 晶线检测单元和硅棒 尺寸检测单元； 所述采集系统安装板竖直设置在 移动滑台上， 所述采集系统安装板上开设用于使 硅棒通过的开口； 所述采集系统安装板上设置晶 线检测单元和硅棒尺寸检测单元。 本实用新型能 实现硅棒的自动化检测， 提高生产效率、 降低生 产成本。 权利要求书1页 说明书4页 附图4页 CN 216847526 U 2022.06.28 CN 216847526 U 1.一种单晶硅棒自动检测系统， 包括： 上位机； 其特征在于， 所述单晶硅棒自动检测系 统还包括： 高精度移动模组(1)、 采集系统(3)、 视觉控制器(4)、 可编程控制器(5)和移动滑 台(6)； 所述高精度移动模组(1)沿待检测的硅棒(11)的长度方向布置， 所述高精度移动模组 (1)上滑动设置移动滑台(6)； 所述高精度移动模组(1)外 接可编程控制器(5)； 所述移动滑台(6)上安装有采集系统(3)； 所述采集系统(3)外 接视觉控制器(4)； 所述采集系统(3)， 包括： 采集系统安装板、 晶线检测单 元和硅棒尺寸检测单 元； 所述采集系统安装板竖直设置在移动滑台(6)上， 所述采集系统安装板上开设用于使 硅棒(11)通过的开口； 所述采集系统安装板上设置晶线检测单 元和硅棒尺寸检测单 元； 所述晶线检测单元， 包括： 多 组第一工业线阵相机(7)和第一光源(8)； 多组第一工业线 阵相机(7)和第一光源(8)依次设置在开口的上方， 并使第一工业线阵相机(7)和第一光源 (8)均朝向开口； 所述硅棒尺寸检测单 元， 包括： 第一尺寸检测结构和/或第二尺寸检测结构； 所述第一尺寸检测结构， 包括： 第二光源(10)和两个第二工业线阵相机(9)； 所述第二 光源(10)设置在开口的一侧， 两个第二工业线阵相机(9)对应 设置在开口的另一侧； 两个第 二工业线阵相机(9)上 下对应设置； 所述第二尺寸检测结构， 包括： 至少一组激光测径仪发射器(13)和激光测径仪接收器 (14)； 所述激光测径仪发射器(13)设置在开口的一侧， 所述激光测径仪接收器(14)设置在 开口的另一侧。 2.根据权利要求1所述的单晶硅棒自动检测系统， 其特征在于， 所述移动滑台(6)上通 过支撑立柱(2)安装有采集系统(3)。 3.根据权利要求1或2所述的单晶硅棒自动检测系统， 其特征在于， 所述第一工业线阵 相机(7)通过相机支架 安装在采集系统安装板上， 且第一工业线阵相机(7)与采集系统安装 板非平行； 每个第一工业线阵相机(7)的镜 头高出对应的第一 光源(8)。 4.根据权利要求3所述的单晶硅棒自动检测系统， 其特征在于， 所述晶线检测单元， 包 括： 三组第一工业线阵相机(7)和第一 光源(8)； 三个第一 光源(8)位于开口 的正上方和两侧， 且三个第一 光源(8)之间连接； 每个第一工业线阵相机(7)位于对应的第一 光源(8)的上 方。 5.根据权利要求4所述的单晶硅棒自动检测系统， 其特征在于， 所述第二尺寸检测结 构， 包括： 两组激光测径仪发射器(13)和激光测径仪接收器(14)； 两个激光测径仪发射器 (13)上下对应设置； 两个激光测径仪 接收器(14)上 下对应设置 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216847526 U 2一种单晶硅棒自动检测系统 技术领域 [0001]本实用新型 涉及视觉图像分析技 术领域， 尤其涉及一种单晶硅棒自动检测系统。 背景技术 [0002]在光伏领域的硅棒完成拉制之后， 硅棒的长度通常为1 ‑7米， 工人需要根据其几何 尺寸以及晶线的状态进行分段划分， 分段数据需要被提供给切断机使用， 以便对硅棒进行 切断处理。 [0003]截止到当前， 光伏行业内都是通过人工使用卷尺和卡尺等工具， 对硅棒进行长度 和直径的测量， 再进行分段划分， 效率极其低下， 测量误差较大， 且直径测量只能取几个点 进行， 无法做到全长度范围内的测量。 [0004]同时， 硅棒表面的四条晶线特征不明显， 无法用一种自动检测的方法来有效检测， 人工肉眼加上卷尺检测的方式很容易产生较大的测量误差， 导致硅棒切断长度不合适甚至 导致废料， 严重影响实际生产， 生产效率较低、 成本也较高。 实用新型内容 [0005]本实用新型主要解决现有技术的硅棒检测通过人工使用卷尺和卡尺等工具， 对硅 棒进行长度和直径的测量， 再进行分段划分， 效率极其低下， 测量误差较大等技术问题， 提 出一种单晶硅棒自动检测系统， 以实现硅棒的自动化检测， 提高生产效率、 降低生产成本和 误差。 [0006]本实用新型提供了一种单晶硅棒自动检测系统， 包括： 高精度移动模组1、 采集系 统3、 视觉控制器4、 可编程控制器5和移动滑台6； [0007]所述高精度移动模组1沿待检测的硅棒11的长度方向布置， 所述高精度移动模组1 上滑动设置移动滑台6； 所述高精度移动模组1外 接可编程控制器5； [0008]所述移动滑台6上安装有采集系统3； 所述采集系统3 外接视觉控制器4； [0009]所述采集系统3， 包括： 采集系统安装板、 晶线检测单 元和硅棒尺寸检测单 元； [0010]所述采集系统安装板竖直设置在移动滑台6上， 所述采集系统安装板上开设用于 使硅棒11通过的开口； [0011]所述采集系统安装板上设置晶线检测单 元和硅棒尺寸检测单 元； [0012]所述晶线检测单元， 包括： 多组第一工业线阵相机7和第一光源8； 多组第一工业线 阵相机7和 第一光源8依次设置在开口的上方， 并使第一工业线阵相机7和第一光源8均朝向 开口； [0013]所述硅棒尺寸检测单 元， 包括： 第一尺寸检测结构和/或第二尺寸检测结构； [0014]所述第一尺寸检测 结构， 包括： 第二光源10和两个第二工业线阵相机9； 所述第二 光源10设置在开口的一侧， 两个第二工业线阵相机9对应设置在开口的另一侧； 两个第二工 业线阵相机9上 下对应设置； [0015]所述第二尺寸检测结构， 包括： 至少一组激光测径仪发射器13和激光测径仪接收说　明　书 1/4 页 3 CN 216847526 U 3