(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202122970149.0 (22)申请日 2021.11.30 (73)专利权人 内蒙古中环领 先半导体材 料有限 公司 地址 010070 内蒙古自治区呼和浩特市赛 罕区宝力尔街15号 专利权人 中环领先半导体材 料有限公司 (72)发明人 杨强　周宏邦　张恒　贾海洋　 娄中士　王淼　甄新雷　罗润泽　 (74)专利代理 机构 天津诺德知识产权代理事务 所(特殊普通 合伙) 12213 专利代理师 栾志超 (51)Int.Cl. F16F 15/067(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种少子寿 命测试仪防护支撑架 (57)摘要 本实用新型提供一种少子寿命测试仪防护 支撑架， 包括： 支撑板、 支撑杆和可调件， 所述支 撑杆设置于所述支撑板的下方， 用于支撑所述支 撑板； 所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支 撑板的一侧， 用于调整支撑架的支撑高度与水 平； 所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上 方； 所述支撑杆被 设置于所述少子寿命测试仪的 侧面。 本实用新型的有益效果是该支撑架结构简 单， 维修方便， 加工成本低； 通过设置独立支 撑防 护架， 在对晶棒进行寿命检测时， 减少寿命仪外 壳与晶棒接触变形损坏； 同时电极发光板内嵌设 置， 避免发光电极板受力， 延长了使用寿命和更 换周期， 进一步节约了生产成本； 尤其针对大尺 寸晶棒的寿命检测， 不存在放置困难或者不平稳 等现象。 权利要求书1页 说明书4页 附图2页 CN 216951464 U 2022.07.12 CN 216951464 U 1.一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于， 包括： 支撑板、 支撑杆和可调件， 所述 支撑杆设置 于所述支撑 板的下方， 用于支撑所述支撑 板； 所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧， 用于调整支撑架的支撑高度与 水平； 所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方； 所述支撑杆被设置于所述少子寿命测试 仪的侧面。 2.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述支撑板至 少设置有两层。 3.根据权利要求2所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述支撑板远 离所述支撑杆的一侧的一层设置为非金属层， 用于避免晶棒与金属接触。 4.根据权利要求3所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述非金属层 为塑料材质。 5.根据权利要求3或4所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述支撑 板靠近所述支撑杆的一侧的一层设置有金属层。 6.根据权利要求5所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述非金属层 上开设有方 形孔； 所述金属层上开设有圆孔。 7.根据权利要求6所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述方形孔与 所述圆孔同心设置， 所述方 形孔与所述圆孔连通设置 。 8.根据权利要求6所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述 圆孔的直 径小于所述方 形孔的边长， 用于承托发光电极板 。 9.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述可调件上 套设有压缩弹簧， 所述压缩弹簧设置 于所述可调件与所述支撑杆之间， 用于减震。 10.根据权利要求1所述的一种少子寿命测试仪防护支撑架， 其特征在于： 所述支撑架 还包括： 放置平台， 所述放置平台平行所述支撑板 设置于所述支撑杆之间， 用于放置所述少 子寿命测试仪 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216951464 U 2一种少子寿命测试 仪防护支撑架 技术领域 [0001]本实用新型属于光伏生产辅助用具领域， 尤其是涉及一种少子寿命测试仪防护支 撑架。 背景技术 [0002]目前进行晶棒的寿命检测过程中， 厂家大多采用内嵌式支撑架， 支撑能力不够， 现 有寿命仪支撑架承重无法满足需要， 容易变形。 同时发光电极板为凸出状态， 测试晶棒寿命 过程中容易变形损坏。 在测试大尺寸(8寸以上)  晶棒时承重能力有限， 同时发光电极板(直 径为160mm的正方形)单独与晶棒端面接触， 大直径(8寸以上)晶棒放置困难， 容易压坏寿命 仪外壳， 并且放置不平稳。 实用新型内容 [0003]本实用新型要解决的问题是提供一种少子寿命测试仪防护支撑架， 尤其适用于大 尺寸晶棒的正常监测， 减少 少子寿命仪 外壳与晶棒接触 变形损坏。 [0004]为解决上述技术问题， 本实用新型采用的技术方案是： 一种少子寿命测试仪防护 支撑架， 包括： 支撑板、 支撑杆和可调件， 所述支撑杆设置于所述支撑板的下方， 用于支撑所 述支撑板； [0005]所述可调件设置于所述支撑杆远离所述支撑板的一侧， 用于调整支撑架的支撑高 度与水平； [0006]所述支撑板被设置于少子寿命测试仪的上方； 所述支撑杆被设置于所述少子寿命 测试仪的侧面。 [0007]进一步的， 所述支撑 板至少设置有两层。 [0008]进一步的， 所述支撑板远离所述支撑杆的一侧的一层设置为非金属层， 用于避免 晶棒与金属接触。 [0009]进一步的， 所述非金属层为塑料 材质。 [0010]进一步的， 所述支撑 板靠近所述支撑杆的一侧的一层设置有金属层。 [0011]进一步的， 所述非金属层上开设有方 形孔； 所述金属层上开设有圆孔。 [0012]进一步的， 所述方 形孔与所述圆孔同心设置， 所述方 形孔与所述圆孔连通设置 。 [0013]进一步的， 所述圆孔的直径小于所述方 形孔的边长， 用于承托发光电极板 。 [0014]进一步的， 所述可调件上套设有压缩弹簧， 所述压缩弹簧设置于所述可调件与所 述支撑杆之间， 用于减震。 [0015]进一步的， 所述支撑架还包括： 放置平台， 所述放置平台平行所述支撑板设置于所 述支撑杆之间， 用于放置所述少子寿命测试仪 。 [0016]由于采用上述 技术方案， 具有以下有益效果： [0017]该支撑架结构简单， 维修方便， 加工成本低； 通过设置独立支撑防护架， 在对晶棒 进行寿命检测时， 减少寿命仪外壳与晶棒接触变形损坏； 同时电极发光板内嵌设置， 避免发说　明　书 1/4 页 3 CN 216951464 U 3