(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 20212321812 2.2 (22)申请日 2021.12.20 (73)专利权人 凌云光技术股份有限公司 地址 100094 北京市海淀区翠湖南环路13 号院7号楼7层701室 专利权人 苏州凌云光工业智能技 术有限公 司　 苏州凌云视界智能设备有限责任 公司 (72)发明人 武飞　邢志广　徐能　 (74)专利代理 机构 北京弘权知识产权代理有限 公司 11363 专利代理师 逯长明　许伟群 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01)G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种用于 外观检测的成像装置 (57)摘要 本申请提供了一种用于外观检测的成像装 置， 包括： 明场光源、 暗场光源、 镜头、 相机和载物 平台； 其中， 所述明场光源发出的光线垂直照射 在所述载物平台上被测物体的表 面， 形成第一反 射光线； 所述第一反射光线以与所述镜头中心轴 线相同的方向经过所述镜头进入 所述相机； 所述 暗场光源发出的光线倾斜照射在所述载物平台 上被测物体的表面， 形成第二反射光线； 所述第 二反射光线经过所述镜头进入所述相机。 本申请 通过明场光源和暗场光源组合的照明方式， 可以 准确的反映出被测物体外观的缺陷， 以便于根据 相机拍摄的图像分析出被测物体所有的外观缺 陷， 进一步提高外观检测的精度和效率。 权利要求书1页 说明书5页 附图3页 CN 216669770 U 2022.06.03 CN 216669770 U 1.一种用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 包括： 明场光源(1)、 暗场光源(2)、 镜头 (3)、 相机(4)和载物 平台(5)； 其中， 所述明场光源(1)用于在被测物体表面形成明场， 所述明场光源(1)发出的光线 垂直照射在所述载物平台(5)上被测物体的表面， 形成第一反射光线； 所述第一反射光线以 与所述镜 头(3)中心轴线相同的方向经 过所述镜头(3)进入所述相机(4)； 所述暗场光源(2)用于在被测物体表面形成暗场， 所述暗场光源(2)发出的光线倾斜照 射在所述载物平台(5)上被测物体的缺陷处， 形成第二反射光线； 所述第二反射光线 经过所 述镜头(3)进入所述相机(4)。 2.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 所述明场光源(1)为 线同轴光源。 3.根据权利要求1或2任一项所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 还包括： 第 一风冷通道， 所述第一 风冷通道设置在所述明场光源(1)中。 4.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 所述暗场光源(2)为 LED大颗粒灯珠。 5.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 所述暗场光源(2)的 长度小于10 0mm， 所述暗场光源(2)的功率 为100W‑180W。 6.根据权利要求4或5任一项所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 还包括： 第 二风冷通道， 所述第二 风冷通道设置在所述暗场光源(2)中。 7.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 还包括： 直线电机 (6)， 所述明场光源(1)和所述暗场光源(2)设置在所述直线电机(6)上， 所述直线电机(6)用 于调整所述明场光源(1)和所述暗场光源(2)相对于所述镜 头(3)的位置 。 8.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 所述镜头(3)为双远 心镜头， 所述相机(4)为线扫相机 。 9.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 所述明场光源(1)为 线同轴光源； 所述暗场光源(2)为LED大颗粒灯珠； 所述暗场光源(2)的长度小于100 mm， 所述 暗场光源(2)的功率 为100W‑180W。 10.根据权利要求1所述的用于外观检测的成像装置， 其特征在于， 所述明场 光源(1)为 线同轴光源； 所述暗场光源(2)为LED大颗粒灯珠； 所述暗场光源(2)的长度小于100 mm， 所述 暗场光源(2)的功率为100W ‑180W； 所述明场光源(1)中设置有第一风冷通道， 所述暗场光源 (2)中设置有第二 风冷通道。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216669770 U 2一种用于外观检测的成像装 置 技术领域 [0001]本申请属于检测设备 领域， 具体涉及一种用于 外观检测的成像装置 。 背景技术 [0002]产品在生产的过程中受到制造工艺或操作环境的影响， 在产品表面可能会产生一 些缺陷。 例如， 手机中框是手机的 “骨架”， 在制程过程中由于制造工艺或质量控制问题， 会 使手机中框的外观产生碰伤、 刮伤、 压伤等缺陷， 以及在不同的工艺流程中产生不同的制程 缺陷。 这类缺陷会严重影响手机的品质， 因此， 在出厂前需要对产品的外观进行检测， 以确 保产品可以达 到质量要求。 [0003]通常， 采用人工检测的方式检测产品的外观缺陷， 但是人工检测缺陷的结果受人 为主观因素的干扰很大。 并且， 人工检测效率低， 成本高。 在很大程度上， 甚至会影响产品质 量的提高。 因此， 机器视觉检测正在逐步替代人工检测。 机器视觉检测是通过获取产品外观 的图像， 根据图像分析出产品的外观 缺陷。 但是， 现有的光源 无法准确的反映出产品表面的 全部缺陷， 从而无法根据图像准确的分析 出外观缺陷， 导 致外观检测精度低。 实用新型内容 [0004]本申请提供了一种用于外观检测的成像装置， 以解决现有检测装置的光源无法准 确的反映出产品表面的全部缺陷， 从而导 致外观检测精度低的问题。 [0005]本申请提供了一种用于外观检测的成像装置， 包括： 明场光源、 暗场光源、 镜头、 相 机和载物 平台； [0006]其中， 所述明场光源用于在被测物体表面形成明场， 所述明场光源发出的光线垂 直照射在所述载物平台上被测物体的表面， 形成第一反射光线； 所述第一反射光线以与所 述镜头中心轴线相同的方向经 过所述镜头进入所述相机； [0007]所述暗场光源用于在被测物体表面形成暗场， 所述暗场光源 发出的光线倾斜照射 在所述载物平台上被测物体的缺陷处， 形成第二反射光线； 所述第二反射光线经过所述镜 头进入所述相机 。 [0008]在一种可选择的实现方式 中， 所述明场光源为线同轴光源。 [0009]在一种可选择的实现方式中， 成像装置还包括： 第一风冷通道， 所述第一风冷通道 设置在所述明场光源中。 [0010]在一种可选择的实现方式 中， 所述暗场光源为 LED大颗粒灯珠。 [0011]在一种可选择的实现方式中， 所述暗场光源的长度小于100mm， 所述暗场光源的功 率为100W‑180W。 [0012]在一种可选择的实现方式中， 成像装置还包括： 第二风冷通道， 所述第二风冷通道 设置在所述暗场光源中。 [0013]在一种可选择的实现方式中， 成像装置还包括： 直线电机， 所述明场光源和所述暗 场光源设置在所述直线电机上， 所述直线电机用于调整所述明场光源和所述暗场光源相对说　明　书 1/5 页 3 CN 216669770 U 3