(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告 号
(45)授权公告日
(21)申请 号 202123089856.5
(22)申请日 2021.12.10
(73)专利权人 江苏望华高新科技有限公司
地址 211161 江苏省南京市雨 花台区板桥
街道永安社区江谷路2号13 6
(72)发明人 贾苏媛
(74)专利代理 机构 武汉领君知识产权代理事务
所(普通合伙) 42248
专利代理师 程欣
(51)Int.Cl.
G01N 21/95(2006.01)
G01N 21/01(2006.01)
(54)实用新型名称
一种用于集成电路 芯片制造的检测装置
(57)摘要
本实用新型涉及集成电路芯片生产技术领
域, 且公开了一种用于集 成电路芯片制造的检测
装置, 包括机架、 电子显微镜与显示屏, 所述机架
的右侧固定有保护壳, 所述机架的内部设置有数
量为两个且横向延伸至 保护壳内部的丝杆, 所述
保护壳的顶部固定有与两个丝杆传动连接的驱
动电机, 两个所述丝杆的外部设置有可横向活动
的电动滑台, 所述电动滑台的内部设置有延伸至
电动滑台背面的连接件, 所述连接件与电子显微
镜固定连接, 所述机架的内部固定安装有数量为
两个且左右对称的连接架。 该用于集成电路芯片
制造的检测装置, 可与芯片传输线进行对接, 无
需人工进行芯片的安装拾取与检测时的移动操
作, 操作更为简单方便, 可有效提高检测效率。
权利要求书1页 说明书3页 附图2页
CN 216525513 U
2022.05.13
CN 216525513 U
1.一种用于集成电路芯片制造的检测装置, 包括机架 (1) 、 电子显微镜 (2) 与显示屏
(10) , 其特征在于: 所述机架 (1) 的右侧固定有保护壳 (4) , 所述机架 (1) 的内部设置有数量
为两个且横向延伸至保护壳 (4) 内部的丝杆 (5) , 所述保护壳 (4) 的顶部固定有与两个丝杆
(5) 传动连接的驱动电机 (6) , 两个所述丝杆 (5) 的外部设置有可横向活动的电动滑台 (7) ,
所述电动滑台 (7) 的内部设置有延伸至电动滑台 (7) 背面的连接件 (8) , 所述连接件 (8) 与电
子显微镜 (2) 固定连接, 所述机架 (1) 的内部固定安装有数量为两个且左右对称的连接架
(9) , 两个所述连接架 (9) 的相对一侧设置有可旋转的载台 (3) , 所述显示屏 (10) 与机架 (1)
固定, 左侧所述连接架 (9) 的外 部固定有与载台 (3) 传动连接的减速电机 (1 1) 。
2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片制造的检测装置, 其特征在于: 两个所
述丝杆 (5) 的右端通过链条传动连接, 所述驱动电机 (6) 的输出端与顶部所述丝杆 (5) 通过
齿轮组传动连接 。
3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片制造的检测装置, 其特征在于: 所述载
台 (3) 包括旋转板 (31) 、 探针卡 (32) 与红外对位传感器 (33) , 所述旋转板 (31) 与两个连接架
(9) 转动连接, 所述旋转板 (31) , 的正面固定有探针卡 (32) , 所述旋转板 (31) 的正面嵌设有
红外对位传感器 (3 3) 。
4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片制造的检测装置, 其特征在于: 两个所
述连接架 (9) 的底部均固定有和载台 (3) 底端背面接触的限位件, 所述载台 (3) 位于电动滑
台 (7) 的背面。
5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片制造的检测装置, 其特征在于: 所述电
动滑台 (7) 包括外壳 (71) 、 活动件 (72) 、 滑台电机 (73) 与传动杆 (74) , 所述外壳 (71) 的顶部
与底部均固定有活动件 (72) , 两个所述活动件 (72) 分别与两个丝杆 (5) 螺纹连接, 所述外壳
(71) 的内部竖向设置有与滑台电机 (73) 传动连接的传动杆 (74) , 所述传动杆 (74) 与连接件
(8) 螺纹连接, 所述滑台电机 (73) 与外壳 (71) 固定 。
6.根据权利要求1所述的一种用于集成电路芯片制造的检测装置, 其特征在于: 所述保
护壳 (4) 的外部固定有输入端与丝杆 (5) 固定的角度传感器, 所述电子显微镜 (2) 位于载台
(3) 的正 面。权 利 要 求 书 1/1 页
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CN 216525513 U
2一种用于集成电路芯片制造的检测装 置
技术领域
[0001]本实用新型涉及集成电路芯片生产技术领域, 具体为一种用于集成电路芯片制造
的检测装置 。
背景技术
[0002]集成电路芯片是包括一硅基板、 至少一电路、 一固定封环、 一接地环及至少一防护
环的电子元件, 其 生产过程中, 在封装前需要人工观察线路刻蚀情况。
[0003]现有的集成电路芯片刻蚀线路检测装置, 需人工拾取安装后, 调整显微镜进行观
察, 所耗费人力较高, 影响检测的效率, 故而提出了一种用于集成电路芯片制造的检测装置
来解决上述 提出的问题。
实用新型内容
[0004](一) 解决的技 术问题
[0005]针对现有技术的不足, 本实用新型提供了一种用于集成电路芯片制造的检测装
置, 具备节省人力等优点, 解决了现有的集成电路芯片刻蚀线路检测装置, 需人工拾取安装
后, 调整显微镜进行观察, 所耗费人力较高, 影响检测的效率的问题。
[0006](二) 技术方案
[0007]本实用新型解决上述技术问题的技术方案如下: 一种用于集成电路芯片制造的检
测装置, 包括机架、 电子显微镜与显示屏, 所述机架的右侧固定有保护壳, 所述机架的内部
设置有数量为两个且横向延伸至保护壳内部的丝杆, 所述保护壳的顶部固定有与两个丝杆
传动连接的驱动电机, 两个所述丝杆的外部设置有可横向活动的电动滑台, 所述电动滑台
的内部设置有延伸至电动滑台背面的连接件, 所述连接件与电子显微镜固定连接, 所述机
架的内部固定安装有 数量为两个且左右对称的连接架, 两个所述连接架的相对一侧设置有
可旋转的载台, 所述显示屏与机架固定, 左侧所述连接架的外部固定有与载台传动连接的
减速电机 。
[0008]本实用新型的有益效果是:
[0009]该用于集成电路芯片制造的检测装置, 在检测作业时, 芯片固定在载台的正面, 由
电动滑台带动连接件与电子显微镜进 行竖向的运动, 由驱动电机带动两个丝杆旋转使电动
滑台进行横向移动, 从而使电子显微镜可在平面进行任意位置移动, 使其可对准需检测电
路, 将拍摄图像传输至显示屏上进行显示, 当检测存在质量问题时, 可直接从载台上将芯片
取下进行回收, 若检测无质量问题, 则减速电机带动载台向后翻转, 由对接的传输线将芯片
带走至下一加工程序, 本装置结构稳定合理, 可与芯片传输线进 行对接, 无需人工进 行芯片
的安装拾取与检测时的移动操作, 操作更为简单 方便, 可有效提高检测效率。
[0010]在上述技术方案的基础上, 本实用新型还可以做如下改进。
[0011]进一步, 两个所述丝杆的右端通过链条传动连接, 所述驱动电机的输出端与顶部
所述丝杆通过齿轮组传动连接 。说 明 书 1/3 页
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专利 一种用于集成电路芯片制造的检测装置
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