(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123115957.5 (22)申请日 2021.12.13 (73)专利权人 济源石晶光电频率 技术有限公司 地址 454650 河南省济源市科技工业区济 源石晶光电频率 技术有限公司 (72)发明人 申红卫　侯标　姜翠平　赵峰　 (74)专利代理 机构 郑州德勤知识产权代理有限 公司 41128 专利代理师 王莉 (51)Int.Cl. G01N 21/88(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 显微镜挑片台 (57)摘要 本实用新型提供一种显微镜挑片台， 包括承 载平台和滑动设置在所述承载平台上的平铺检 测桌； 所述承 载平台的上表面设置有中间隔条和 多条滑槽， 所述滑槽分布在所述中间隔条的两 侧， 多条所述滑槽均与所述中间隔条平行设置； 所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动 配合的支腿。 该显微镜挑片台能够将石英晶片更 好的摊开在 平铺检测桌上， 并可以随着平铺检测 桌的滑动将石英晶片依次显 现在显微镜视野中， 从而保证了每个石英晶片均能够得到检测， 避免 了漏检的缺陷。 该装置 检测速度快、 检测精度高。 权利要求书1页 说明书2页 附图2页 CN 216718238 U 2022.06.10 CN 216718238 U 1.一种显微镜挑片台， 其特征在于： 包括承载平台和滑动设置在所述承载平台上的平 铺检测桌； 所述承载平台的上表面设置有中间隔条和多条滑槽， 所述滑槽分布在所述中间隔条的 两侧， 多条 所述滑槽均 与所述中间隔条平行设置； 所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿。 2. 根据权利要求  1 所述的显微镜挑片台， 其特征在于： 所述平铺检测桌的底部设置 有四个所述支腿， 位于同一侧的两个所述支腿形成一副支腿组， 两幅所述支腿组分别滑动 设置在所述中间隔条两侧的滑槽内。 3.根据权利要求1或2所述的显微镜挑片台， 其特征在于： 所述平铺检测桌的宽度大于 所述中间隔条的宽度。 4. 根据权利要求3  所述的显微镜挑片台， 其特征在于： 所述平铺检测桌的上表面与所 述承载平台的上表面平行设置 。 5. 根据权利要求4  所述的显微镜挑片台， 其特征在于： 多条所述滑槽水平贯穿所述承 载平台的上表面设置 。 6. 根据权利要求1或2  所述的显微镜挑片台， 其特 征在于： 多条 所述滑槽等间距设置 。 7. 根据权利要求6  所述的显微镜挑片台， 其特征在于： 所述承载平台的下表面开设有 多条底滑槽， 多条 所述底滑槽平行设置 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216718238 U 2显微镜挑片台 技术领域 [0001]本实用新型 涉及石英晶片检测领域， 具体的说， 涉及了一种显微镜挑片台。 背景技术 [0002]石英晶片在制作过程中， 通常需要进行切片、 粘砣、 研磨、 抛光等工艺， 而在制作过 程中， 会经常需要采用显微镜对石英晶片进行外观检测。 而现有的石英晶片检测平台并不 能够将石英晶片完全平铺在显微镜的视野中， 从而经常发生漏检状况， 导致产品因外观检 测不良而退货。 [0003]为了解决漏检的问题， 申请 号为201220211376.3的专利申请公开了一种晶片检测 机， 该装置采用一种载片台实现对晶片的X轴、 Y轴和角度进行检测功能， 但该装置结构复 杂、 成本较高且操作水平要求较高。 [0004]为了解决以上存在的问题， 人们一 直在寻求一种理想的技 术解决方案 。 实用新型内容 [0005]为了实现上述目的， 本实用新型所采用的技术方案是： 一种显微镜挑片台， 包括承 载平台和滑动设置在所述承载平台上的平铺检测桌； [0006]所述承载平台 的上表面设置有中间隔条和多条滑槽， 所述滑槽分布在所述中间隔 条的两侧， 多条 所述滑槽均 与所述中间隔条平行设置； [0007]所述平铺检测桌的底部设置有与所述滑槽滑动配合的支腿。 [0008]基于上述， 为了平稳滑动， 所述平铺检测桌的底部设置有四个所述支腿， 位于同一 侧的两个所述支腿形成一副支腿组， 两幅所述支腿组分别滑动设置在所述中间隔条两侧的 滑槽内。 [0009]基于上述， 为了实现平铺检测桌既能够沿滑槽滑动， 又能够移动到不同滑槽内， 所 述平铺检测桌的宽度大于所述中间隔条的宽度。 [0010]基于上述， 为了便于检测， 所述平铺检测桌的上表面与所述承载平台的上表面平 行设置。 [0011]基于上述， 为了 便于滑动， 多条 所述滑槽水平贯 穿所述承载平台的上表面设置 。 [0012]基于上述， 为了确保每次检测的石英晶片数量相同， 多条 所述滑槽等间距设置 。 [0013]基于上述， 所述承载平台的下表面 开设有多条底滑槽， 多条 所述底滑槽平行设置 。 [0014]本实用新型相对现有技术具有实质性特点和进步， 具体 的说， 本实用新型提供的 显微镜挑片 台， 通过在承载平台上表面设置多条平行 的滑槽， 并在承载平台上滑动设置用 于平铺石英晶片的平铺检测 桌， 从而在利用显微镜检测石英晶片的外观时， 能够将石英晶 片更好的摊开在平铺检测桌上， 并可以随着平铺检测桌的滑动 将石英晶片依次显现在显微 镜视野中， 从而保证了每个石英晶片均能够得到检测， 避免了漏检的缺陷。 该装置检测速度 快、 检测精度高。说　明　书 1/2 页 3 CN 216718238 U 3