(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123007514.4 (22)申请日 2021.12.02 (73)专利权人 苏州康代智能科技股份有限公司 地址 215000 江苏省苏州市工业园区同胜 路42号 (72)发明人 顾德胜　 (74)专利代理 机构 苏州创元专利商标事务所有 限公司 3210 3 专利代理师 吴芳 (51)Int.Cl. G01N 21/956(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 用于电路板缺陷检测的打光装置及缺陷检 测装置 (57)摘要 本实用新型公开了一种用 于电路板缺陷检 测的打光装置及缺陷检测装置， 打光装置包括安 装基座、 多个UV光源以及第一滤波片， 其中， 所述 UV光源用于提供UV光， 所述UV光源设置在所述安 装基座上； 所述第一滤波片为透明镀膜滤片， 且 所述第一滤波片与所述物镜配合设置， 使得UV光 通过所述第一滤波片被过滤； 所述安装基座还与 所述物镜配合设置， 使得所述UV光源发出的UV光 能够照射在待检测电路板上， 进而令所述缺陷检 测设备能够在 UV光下进行缺陷检测。 本实用新型 提供的技术方案利用多个UV光源对电路板进行 打光， 打光充足， 并通过滤光片的过滤作用， 使检 测系统能够在UV光的照射下进行电路板缺陷检 测工作， 安全可靠 。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 216747477 U 2022.06.14 CN 216747477 U 1.一种用于电路板缺陷检测的打光装置， 其特征在于， 所述打光装置与外部缺陷检测 装置配合设置， 所述缺陷检测装置包括物镜， 所述打光装置包括安装基座(1)、 多个UV光源 (2)以及第一滤波片(3)， 其中， 所述UV光源(2)用于提供UV光， 所述UV光源(2)设置在所述安 装基座(1)上； 所述第一滤波片(3)为透明镀膜滤片， 且 所述第一滤波片(3)与所述物镜配合 设置， 使得UV光通过所述第一滤波片(3)被过滤； 所述安装基座(1)还与所述物镜配合设置， 使得所述UV光源(2)发出的UV光能够照射在待检测电路板上， 进而令所述缺陷检测设备能 够在UV光下进行缺陷检测。 2.根据权利要求1所述的打光装置， 其特征在于， 所述第一滤波片(3)为LP430滤波片， 在所述第一滤波片(3)的作用下， 43 0nm以下的UV光被过 滤。 3.根据权利 要求1所述的打光装置， 其特征在于， 所述UV光源(2)包括灯珠， 所述UV光源 (2)上设有透镜(21)， 所述透镜(21)与所述灯珠配合设置， 且所述透镜(21)的焦距范围满足 预设条件， 使得 所述UV光源(2)发出的UV光能够照射在待检测电路板上。 4.根据权利要求3所述的打光装置， 其特征在于， 所述UV光源(2)上还设有第二滤波片 (22)， 所述第二滤波片(2 2)与所述透 镜(21)和所述灯珠分别配合设置 。 5.根据权利要求4所述的打光装置， 其特征在于， 所述第二滤波片(22)为BP390滤波片， 所述第二滤波片(2 2)被配置为过 滤390nm以上的光。 6.根据权利要求3所述的打光装置， 其特 征在于， 所述灯珠为 405nmLED。 7.根据权利要求3所述的打光装置， 其特征在于， 所述打光装置还包括散热模组， 所述 散热模组与所述灯珠配合设置 。 8.根据权利要求1所述的打光装置， 其特征在于， 所述安装基座(1)上设有多个通孔， 且 所述UV光源(2)通过所述通孔与所述安装基座(1)配合设置， 通过调整 所述通孔的倾斜角改 变所述UV光源(2)的位置 。 9.根据权利要求1所述的打光装置， 其特 征在于， 所述UV光源(2)的数量 为三个。 10.一种缺陷检测装置， 其特征在于， 所述缺陷检测装置用于电路板的缺陷检测， 所述 缺陷检测装置包括权利要求1至9中任意 一项所述的打光装置 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 216747477 U 2用于电路板缺陷检测的打光装 置及缺陷检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型涉及电路板缺陷检测领域， 特别涉及 一种用于电路板缺陷检测的打光 装置及缺陷检测装置 。 背景技术 [0002]目前， 用于电路板缺陷检测的检修设备在检测扫面PCB板复查时， 由于正常普通光 的色彩问题会导致长时间工作后产生视觉疲劳的OP人员忽略一些缺陷， 造成不必要的误 判， 并且正常光照下基材 的荧光色在有的特殊需求下是无法满足观察基材 的标准， 即不清 楚甚至模糊。 [0003]随着PCB板的制作 越来越精密， 原 先有关于UV光源的方案已经不能满足需求， 故现 在需要重新设计并改良UV光源方案以应对现在以及未来的光源需求。 实用新型内容 [0004]本实用新型的目的是提供一种高聚焦且安全可靠的用于电路板缺陷检测的打光 装置及缺陷检测装置 。 [0005]为达到上述目的， 本实用新型采用的技 术方案如下： [0006]一种用于电路板缺陷检测的打光装置， 所述打光装置与外部缺陷检测装置配合设 置， 所述缺陷检测装置包括物镜， 所述打光装置包括安装基座、 多个UV光源以及第一滤波 片， 其中， 所述UV光源用于提供UV光， 所述UV光源设置在所述安装基座上； 所述第一滤波片 为透明镀膜滤片， 且所述第一滤波片与所述物镜配合设置， 使得UV光通过所述第一滤波片 被过滤； 所述安装基座还与所述物镜配合设置， 使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待 检测电路板上， 进 而令所述 缺陷检测设备能够 在UV光下进行缺陷检测。 [0007]优选地， 所述第一滤波片为LP430滤波片， 在所述第一滤波片的作用下， 430nm以下 的UV 光被过滤。 [0008]进一步地， 所述UV光源包括灯珠， 所述UV光源上设有透镜， 所述透镜与所述灯珠配 合设置， 且所述透镜的焦距范围满足预设条件， 使得所述UV光源发出的UV光能够照射在待 检测电路板上。 [0009]进一步地， 所述UV光源上还设有第二滤波片， 所述第二滤波片与所述透镜和所述 灯珠分别配合设置 。 [0010]优选地， 所述第二滤波片为BP390滤波片， 所述第二滤波片为BP390滤波片， 所述第 二滤波片被 配置为过 滤390nm以上的光。 [0011]优选地， 所述灯珠为 405nmLED。 [0012]进一步地， 所述打光装置还 包括散热模组， 所述散热模组与所述灯珠配合设置 。 [0013]进一步地， 所述安装基座上设有多个通孔， 且所述UV光源通过所述通孔与所述安 装基座配合设置， 通过调整所述 通孔的倾斜角改变所述UV光源的位置 。 [0014]优选地， 所述UV光源的数量 为三个。说　明　书 1/3 页 3 CN 216747477 U 3