ICS17.040.20 GB CCSA42 中华人民共和国国家标准 GB/T 44075—2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法 NanotechnologyDetermination of the uniformity of SERS solid substrate- Raman mapping analysis 2024-05-28发布 2024-12-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会 GB/T440752024 目次前言 II 引言 IN 1 范围 2 规范性引用文件术语和定义方法概要 4 5 仪器设备 6 试剂和材料 7 测试过程测试报告 8 附录A（资料性）表面增强拉曼基片均匀性测量拉曼成像分析法示例参考文献

GB-T 44075-2024 纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法

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