ICS 17.040.20 J 04 GB 中华人民共和国国家标准 GB/T7234—2004 代替GB/T7234—1987 产品几何量技术规范（GPS） 圆度测量 术语、定义及参数 Geometrical Product Specifications(GPS)- Measurement of roundness- Terms,definitions and parameters of roundness 2005-07-01实施 2004-11-11发布 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 中国国家标准化管理委员会 GB/T7234—2004 前言 本标准是对GB/T7234一1987《圆度测量术语、定义及参数》标准的修订。 本标准与GB/T7234—1987相比主要变化如下： 给出了标准的适用范围，使标准更完善。 标准的技术内容与产品几何技术规范（GPS)标准体系协调一致。如对国标中的“轨迹轮廓、实 际轮廓、滤波器波数范围”等术语定义作了相应的修改。 在标准编写格式上按新的GB/T1.1的规定作了相应的修改 本标准附录A为资料性附录。 本标准由全国产品尺寸和几何技术规范标准化技术委员会提出并归口。 本标准起草单位：机械科学研究院、北京计量科学研究所。 本标准主要起草人：王欣玲、陈月祥、吴迅 本标准于1987年2月首次发布。 GB/T7234—2004 产品几何量技术规范（GPS） 圆度测量术语、定义及参数 1 范围 本标准规定了有关圆度测量的术语、定义及参数。 本标准适用于确定圆度误差的计量学术语。 附录A给出了测量过程图例和坐标系统。 2规范性引用文件 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有 的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究 是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。 GB/T3505一2000产品几何技术规范表面结构轮廓法表面结构的术语、定义及参数（eqv ISO 4287:1997) GB/T6062一2002产品几何技术规范（GPS） 表面结构轮廓法接触（触针）式仪器的标称特 性(eqvISO3274：1996) GB/T18777—2002 产品儿何技术规范（GPS） 表面结构 轮廓法相位修正滤波器的计量特 性(eqvISO11562:1996) 3一般术语 由GB/T3505、GB/T6062和18777标准确立的以及下列术语和定义适用于本标准。 3.1一般术语 3. 1. 1 实际表面 real surface 物体与周围介质分离的表面。 3. 1. 2 名义回转轴线 nominal axis of rotation 仪器主轴回转的理论轴线。 3.1.3 瞬时回转轴线 instantaneous axis of rotation 在任意瞬间仪器主轴实际的回转轴线。 3. 1.4 基准回转轴线 reference axis of rotation 仪器主轴各瞬时回转轴线的平均轴线。 3.1.5 瞬时回转误差 instantaneouserro of rotation 由于瞬时回转轴线和基准回转轴线位置间的差别而产生的误差。 注：仪器的回转误差可包括径向、轴向及倾斜误差分量。 GB/T7234—2004 3.1. 6 名义测量平面nominalplansofmeasurment 垂直于仪器名义回转轴线的一个平面。 3. 1. 7 测量平面planeofmeasurment 垂直于仪器基准回转轴线且通过仪器触头与零件接触点的平面。 3. 1. 8 测量方向direction ofmeasurment 确定零件轮廓径向变化量的方向，该方向与仪器回转轴线大致相交，且通常位于测量平面内 3. 1. 9 零件轴线 axis of workpiece 假定零件相应部分围绕其旋转的给定直线（见图A.2）。 注：零件轴线可以用以下几种拟合方法： 1) 对零件的提取中心线按最小区域拟合得到的轴线。 2）对零件的提取中心线按最小二乘拟合得到的轴线 3）通过相离的两个给定横截面的拟合圆心的一条直线 4）通过一个给定的横截面的拟合圆心，且垂直于给定轴肩的一条直线。 5） 通过两支承中心的直线，该直线与零件表面无关。 3.1.10 安装偏心setting-upeccentricty 在测量平面内，零件轮廓拟合圆心相对于仪器基准回转轴线与该平面交点之间的距离。 3. 1. 11 仪器放大率 factor of amplification 仪器输出量与测量方向上仪器触头的位移量之比。 3.2轮廓 3.2.1 实际轮廓 realprofile 垂直于圆形零件轴线的平面与零件实际表面相交所形成的轮廓。 3. 2. 2 轮廓转换 profile transformation 在测量过程的任一阶段（如：触针滑移、滤波、记录等）预期地或非预期地导致轮廓表面形式产生的 过程。 3.2.3 轨迹轮廓 tracedprofile 测量表面时，触头在被测表面的横切面内触头中心点的轨迹，这个触头具有理想的几何形状（带有 球形尖端的圆锥体）、标称尺寸和标称测力。 3.2. 4 修正轮廓 modifiedprofile 经具有一定特性的模拟和（或）数字滤波器进行预期轮廓转换后的轨迹轮廓。 3.2.5 显示轮廓displayedprofile 轨迹轮廓或实际轮廓经仪器显示得出的轮廓，如轨迹图形、示波器显示的图像或数字描述等 3.3评定基准圆 2 GB/T7234—2004 3.3. 1 基准圆reference circle 与零件的轨迹轮廓具有规定的相关关系的圆，该圆是确定圆度的儿何参数和圆度误差的依据。 3.3.2 显示基准圆 displayed refecnce circle 与零件的显示轮廊具有规定的相关关系的圆。 3.3. 3 最小区域圆 minimum zone circles MZC 包容显示轮廓，且半径差为最小的二同心圆。 3.3.4 最小二乘圆 least squares mean circle LSC 显示轮廓到该圆距离的平方和为最小的一个圆。 注：最小二乘圆可用足够精确的有限条间距适当的径向线来确定。 3.3.5 最小外接圆 minimum circumscribed circleMCC 外接于轴的显示轮廓的可能最小圆。 3. 3. 6 最大内接圆 maximuminsceibed circle MIC 内接于孔的显示轮廓的可能最大圆。 3.4有关圆周的术语 3. 4. 1 每转波数 undulations per revolation upr 零件圆周上所包含的完整的周期性波动的数目。 注：在360°或2元弧度内不得小于整波。 3.4.2 正弦波数 sinusoidal undulation numder ns 零件旋转一周内所测的周期性正弦波动的数目。 3.4.3 sinusoidal undulation frequency 正弦波频率 正弦波数与仪器主轴每秒转数的乘积（以赫兹表示）。 3.4.4 波长角wavelenthangle 每转波数（upr）的倒数乘以360（以度表示）或乘以2元（以弧度表示）见图1。 3.4.5 圆周波长 circumferential wavelenth 零件圆周长除以每转波数upr。 3.5有关仪器滤波器功能的术语 3.5. 1 滤波器 wavefilter 种传输一定正弦频率范围的系统，滤波器对所通过的频率范围（通带）的信号呈现低于额定值的 衰减；对于所阻止的频率范围（阻带）的信号呈现显著衰减。 注：电子滤波器的一个特性是输出对输入的幅度比只与频率有关而与幅度无关；对于机械滤波（例如触头），该比值 则同时受幅度和频率的影响。 3