ICS 71.040.50 CCS N 33 中华人民共和国国家标准 GB/T 43087—2023 微束分析，分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法 Microbeam analysisAnalytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials (IS0 20263:2017,MOD) 2023-09-07发布 2024-04-01实施国家市场监督管理总局发布国家标准化管理委员会

GB-T 43087-2023 微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法

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